Lichtmikroskopie:


Materialographie im Durchlicht- und Auflichtverfahren an metallischen und nichtmetallischen Werkstoffen
  • Hell-Dunkelfeld
  • Polarisation
  • Phasenkontrast
  • Interferenzkontrast nach Nomarski (DIC)
  • Vergrößerungen: 10x bis 2000x
  • optisches Messmikroskop
Rasterelektronenmikroskopie zur Schadensfallanalyse
an Brüchen und Homogenitätsuntersuchungen:
  • Mikrosonde WDS zur Analyse im REM

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