Lichtmikroskopie:
Materialographie im Durchlicht- und Auflichtverfahren an metallischen und
nichtmetallischen Werkstoffen
- Hell-Dunkelfeld
- Polarisation
- Phasenkontrast
- Interferenzkontrast
nach Nomarski (DIC)
- Vergrößerungen:
10x bis 2000x
- optisches
Messmikroskop
Rasterelektronenmikroskopie
zur Schadensfallanalyse
an Brüchen und Homogenitätsuntersuchungen:
- Mikrosonde
WDS zur Analyse im REM
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